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  • 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀（HEM）
    霍爾效應(yīng)測(cè)試儀（HEM）

    可用于一般半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測(cè)量，是研究半導(dǎo)體和電子材料的電子特性的重要工具。

    時(shí)間：2023-6-14型號(hào)：HEM訪問(wèn)量：2473
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